美國Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片是用來對膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進行校驗，該標(biāo)準(zhǔn)片經(jīng)保護材料研究所檢驗認證，為電解測厚儀厚度標(biāo)準(zhǔn)檢驗片。

產(chǎn)品型號：HX
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2025-11-14
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產(chǎn)品詳情/ PRODUCT DETAIL

標(biāo)題：美國Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片

產(chǎn)品概述

　　美國Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片適用于X射線類儀器的標(biāo)準(zhǔn)。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標(biāo)準(zhǔn)件都來自于美國Calmetrics公司。適用于費希爾Fischer、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒MicroPioneer、精工Seiko、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray(X射線測厚儀)、β-ray(β射線測厚儀)、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。

　　美國Calmetrics通常作用：

　　1、用來對膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進行校驗。在膜厚儀測試過程中對膜厚儀運行過程中，確認工作狀態(tài)。防止膜厚儀故障狀態(tài)時能*時間確認。

　　2、專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

　　軟件測試流程

　　一：參數(shù)設(shè)置

　　1.峰位校準(zhǔn)參數(shù)，元素Ag通道552

　　1)開機后預(yù)熱，步驟為：放入Ag元素片→產(chǎn)品程式→選擇→預(yù)熱→開始。

　　2)：參數(shù)→峰位校準(zhǔn)參數(shù)→管流設(shè)置(0.1準(zhǔn)直器設(shè)置為3000左右，0.2準(zhǔn)直器設(shè)置為1000左右，根據(jù)不同的準(zhǔn)直器，設(shè)置合適的管流，保證Ag計數(shù)率在2200左右，)

　　3)峰位校正：點擊

　　→開始→自動進入峰位校正程序，保證Ag峰通道在552，成功后進入校正Cu元素界面，更換Cu元素片，峰通道在198，峰位校正成功。

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美國Calmetrics鍍層標(biāo)準(zhǔn)片是用來對膜厚儀工作狀態(tài)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性進行校驗，該標(biāo)準(zhǔn)片經(jīng)保護材料研究所檢驗認證，為電解測厚儀厚度標(biāo)準(zhǔn)檢驗片。

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